可靠度双85试验介绍

可靠度“双85试验”一般指对产品（尤其是整机或关键子系统）进行的综合环境与应力可靠性验证：在85 ℃、85% RH（相对湿度）条件下连续运行一定时间（常见为1000 h，也可按标准设定如168 h、500 h等），以评估其在高温高湿应力下的耐久性和早期失效风险。该试验常用于电子、光电、封装、材料、家电等行业，也是不少企业《产品可靠性验证计划》或《环境应力筛选（ESS）》中的必测项目。

核心要点：

目的：验证产品在潮热环境中长期运行的可靠性，筛出潜在“早夭”件；评估密封、涂层、焊点、封装、绝缘等在高温高湿下的老化、腐蚀、漏电等风险。

条件：试验箱设置 85 ℃±2 ℃、85%±5% RH，连续运行，过程中可在通电/带载或非通电状态下进行。很多标准直接称为“85/85 test”或“THB（Temperature-Humidity-Bias）测试”。

通电偏压：若属于 THB（温湿偏压）试验，则在85/85条件下施加规定的工作电压或加速电压，使器件在高温高湿并带电状态下加速老化。

判定标准：试验期间及结束时按功能、性能参数、绝缘/漏电指标、外观等进行检查；允许的失效数、性能漂移限度和检验项目由技术规范或可靠性要求给定（如 GB/T 2423.3、IEC 60068-2-67、JEDEC JESD22-A101 等）。

样品量与分类：按产品级别与可靠性要求确定样品数量，常结合军标/民品规范分为一级批、二级批等；试验结束后统计失效率、MTBF 推估、失效模式分析。

结果处理：若出现失效，需进行失效分析（FA）判定原因，编写 CAR/8D 报告，并决定是否设计改进、增加防护或调整工艺。

延伸与变型：有些行业还规定“Highly Accelerated Stress Test (HAST)”或“85/85 + Electrical Bias + Pressure (PCT)”等加速试验；也常与温湿循环、冷热冲击、盐雾等组合形成完整的可靠性验证矩阵。

操作流程概览：

制定试验方案：明确样品信息、测试条件（温湿、持续时间、通电状态、测试频次）、判定标准与判废条款。

预处理与初检：样品装配完成后进行功能/性能初检、清洁、编号，并记录基线数据。

试验执行：放入温湿试验箱，按方案运行；若需通电偏压则接入测试治具或老化架，实时监控温湿曲线。

中途检查：按计划停机或在线监测关键参数（如电流、漏电流、输出功率），记录任何异常。

终检与判定：试验周期结束后恢复常温，进行外观、尺寸、电性、功能、性能复测，与基线对比，判定合格/不合格。

失效分析：对所有失效样品开盖、解剖或使用显微、X-ray、SEM 等手段进行分析，明确失效模式（腐蚀、开路、短路、材料老化等）。

报告总结：形成完整报告，包括试验条件、环境曲线、样品详情、测试记录、失效率统计、失效模式、改进建议等。

典型应用：

LED/半导体封装件的潮热可靠性；

电子控制器、PCBA、传感器在高温高湿环境下的工作稳定性；

家电、汽车电子等需要在亚热带或潮湿环境长期服役的产品；

材料系统（封胶、密封圈、绝缘材料）的老化验证。

使用建议：

若产品对湿度敏感，应在设计阶段选择耐潮材料并考虑涂覆/密封方案，否则85/85试验会频繁失效。

需确保试验前样品焊接助焊剂、污染物彻底清理，否则湿热环境会加速腐蚀、漏电。

通电偏压试验必须设置电流/温度保护，防止发生意外过热或严重失效损伤试验箱。

试验后应迅速恢复常温干燥环境，再进行性能测试，防止冷凝水对测试造成影响。

建议结合 HAST、温湿循环等形成可靠性试验矩阵，综合验证抗环境应力能力。